兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 定制款模擬環(huán)境氣候

結(jié)構(gòu)特點(diǎn)

1. 分區(qū)設(shè)計(jì)

• 通常采用兩箱式或三箱式結(jié)構(gòu)。兩箱式結(jié)構(gòu)包含高溫箱和低溫箱，樣品通過(guò)自動(dòng)轉(zhuǎn)移裝置在兩箱之間快速移動(dòng)來(lái)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊；三箱式結(jié)構(gòu)則在高溫區(qū)和低溫區(qū)之外，額外設(shè)置了一個(gè)常溫緩沖區(qū)，樣品放置在緩沖區(qū)，通過(guò)控制閥門的開合，使高溫或低溫空氣進(jìn)入緩沖區(qū)與樣品接觸，這樣樣品在靜止?fàn)顟B(tài)下就能完成冷熱沖擊測(cè)試，減少了因移動(dòng)可能造成的樣品震動(dòng)等影響。

• 內(nèi)部各區(qū)域采用優(yōu)質(zhì)保溫材料進(jìn)行隔熱處理，有效防止熱量的散失或竄流，確保高溫區(qū)和低溫區(qū)的溫度穩(wěn)定性以及溫度切換的高效性，同時(shí)也有助于降低設(shè)備的能耗。

2. 樣品架與夾具
   配備專門設(shè)計(jì)的樣品架和適配 DV 芯片的夾具，可靈活調(diào)整位置和間距，方便放置不同規(guī)格、數(shù)量的 DV 芯片進(jìn)行批量測(cè)試。夾具能夠牢固地固定芯片，避免在溫度急劇變化過(guò)程中芯片出現(xiàn)位移、松動(dòng)等情況，保障測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。

兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 定制款模擬環(huán)境氣候

技術(shù)參數(shù)

1.溫度范圍：-40℃～150℃(D)

2.濕度范圍：30%～98%R.H（溫度在25℃～95℃）

3.溫度均勻度：≤±2℃  （空載時(shí)）

4.濕度均勻度：+2%  -3%R.H

5.溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃ （空載時(shí)）

6.濕度波動(dòng)度：±2%

7.溫度偏差：≤±2℃

8.濕度偏差：≤±2%

9.降溫速率：0.7～1.0℃/min

10.升溫速率：1.0～3.0℃/min

11.時(shí)間設(shè)定范圍：0～999 小時(shí)

12.電源電壓：380V±10%

13.設(shè)備總功率：3KW～15KW

性能參數(shù)

1. 溫度范圍
   低溫區(qū)一般可達(dá)到 -60℃甚至更低，能夠模擬極度寒冷的環(huán)境，如高寒地區(qū)的戶外使用場(chǎng)景；高溫區(qū)溫度可達(dá)到 150℃以上，足以覆蓋芯片在設(shè)備長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行、局部發(fā)熱等情況下所面臨的高溫工況，充分考驗(yàn) DV 芯片在寬溫范圍內(nèi)的性能表現(xiàn)。

2. 溫度變化速率
   具備快速的溫度變化能力，可實(shí)現(xiàn)每分鐘 10℃ - 30℃甚至更快的溫度變化速率，快速地讓 DV 芯片經(jīng)歷冷熱交替，精準(zhǔn)模擬現(xiàn)實(shí)中各種突發(fā)的、劇烈的溫度變化場(chǎng)景，如電子設(shè)備從寒冷的戶外進(jìn)入溫暖室內(nèi)時(shí)瞬間的溫度變化等。

3. 溫度均勻性
   在整個(gè)測(cè)試工作室空間內(nèi)，無(wú)論是高溫狀態(tài)、低溫狀態(tài)還是溫度切換過(guò)程中，各點(diǎn)的溫度均勻性能夠控制在較小的偏差范圍內(nèi)，通?？蛇_(dá)到 ±1℃ - ±2℃，確保每一片處于測(cè)試中的 DV 芯片都能接受到均勻一致的冷熱沖擊，使測(cè)試結(jié)果更具代表性和科學(xué)性。