冷熱沖擊試驗(yàn)箱 新品質(zhì)量控制設(shè)備
控制系統(tǒng)
采用PID+SSR精確控制,可根據(jù)設(shè)定的溫度范圍和變化速率,自動調(diào)節(jié)制冷和加熱系統(tǒng)的輸出功率,確保箱內(nèi)溫度按預(yù)設(shè)要求變化,并監(jiān)測記錄試驗(yàn)過程中的各種參數(shù),以便后續(xù)數(shù)據(jù)分析處理.



冷熱沖擊試驗(yàn)箱 新品質(zhì)量控制設(shè)備
性能特點(diǎn)
快速溫度變化:能夠在短時間內(nèi)實(shí)現(xiàn)溫度的急劇變化,模擬CPU芯片組在實(shí)際使用中可能遇到的快速冷暖環(huán)境交替,如從極寒到極熱的瞬間轉(zhuǎn)換,考驗(yàn)芯片組在這種條件下的性能穩(wěn)定性.
溫度均勻性好:無論是在高溫、低溫還是溫度切換過程中,試驗(yàn)箱內(nèi)各個位置的溫度都能保持較好的一致性,確保CPU芯片組在試驗(yàn)過程中受到均勻的溫度沖擊,使測試結(jié)果更具代表性和可靠性.
高度自動化:一旦設(shè)定好測試參數(shù),試驗(yàn)箱可自動完成溫度循環(huán)過程,無需人工頻繁干預(yù),減少了人為因素對測試結(jié)果的影響,同時提高了測試效率.
產(chǎn)品用途:
冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)***的測試設(shè)備,用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

使用注意事項(xiàng)
樣品放置:需確保CPU芯片組樣品在試驗(yàn)箱內(nèi)放置穩(wěn)固,避免在溫度沖擊過程中發(fā)生位移或晃動,影響測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
預(yù)熱與預(yù)冷:在進(jìn)行溫度切換時,應(yīng)充分進(jìn)行預(yù)熱和冷卻,防止溫度突變對測試結(jié)果產(chǎn)生影響,同時也有助于保護(hù)試驗(yàn)箱的制冷和加熱系統(tǒng).
安全操作:嚴(yán)格按照設(shè)備的操作手冊進(jìn)行操作,注意設(shè)備的正常工作狀態(tài),避免因誤操作導(dǎo)致設(shè)備故障或安全事故的發(fā)生.